纳米尺度近场电离质谱分析与成像的新方法

发布日期:2017-12-15     浏览次数:3281次    发布者:刘春英    

       杭纬教授课题组与李剑锋教授课题组合作在纳米尺度近场电离质谱分析与成像新方法的研究工作,于12月8日发表在Science子刊《科学进展》,标题为 “Tip-enhanced ablation and ionization mass spectrometry for nanoscale chemical analysis”(Science Advances, 2017, 3:eaaq1059)。

       纳米尺度横向分辨率的谱学方法在物理学、化学、地质、生物和材料科学领域正变得至关重要。激光的易用性和质谱的广谱性使得激光质谱成像技术被广泛看好。然而,激光质谱成像的横向分辨率由于受到多个因素的影响迄今仅限于微米尺度。该研究工作使用自制的质谱仪器,利用壳层无孔针尖增强作为剥蚀和电离的机制,以及飞行时间质谱作为质量分析器,展现了纳米尺度弹坑并采集相应质谱信号的能力和重现性,实现了多种无机盐残留物的多元素分析,并获得了50 nm横向分辨率的钾盐残留物的质谱成像。该方法为化学组成在纳米尺度的分析和成像提供了新的途径。

     

      杭纬课题组的梁志森博士生完成论文的总体实验,张书迪博士生完成近场剥蚀和电离的理论模型;李剑锋课题组的王亚萍硕士生完成壳层针尖的制备。研究工作得到国家自然科学基金等支持。

      论文链接:http://advances.sciencemag.org/content/3/12/eaaq1059